對于一些厚度比較大的物體，我們可以采用粗略的測量方法估計(jì)厚度。但對于非常薄的物體表面或者是測量精確度要求比較高時，比如手機(jī)膜的厚度測量，就可以利用高精度涂層測厚儀進(jìn)行厚度測量。

為什么手機(jī)膜需要采用儀器進(jìn)行厚度測量呢？還有沒有別的簡便方法也可以進(jìn)行測量呢？首先我們要了解手機(jī)膜這種厚度接近一百微米甚至幾百微米的物品是很難大致估測厚度的，一般來說手機(jī)鋼化膜的厚度通常在150um-400um之間，如果采用螺旋測微器甚至游標(biāo)卡尺進(jìn)行厚度測量都會造成誤差很大。

用高精度涂層測厚儀進(jìn)行手機(jī)膜厚度測量是同等條件下較為簡單便利同時又準(zhǔn)的一種方法。在科研中針對薄膜也有一些測量方式，比如作為橢偏儀的光學(xué)測量儀器，或者專業(yè)用于測量薄膜厚度的臺階儀。還有光學(xué)顯微鏡、掃描電子顯微鏡、原子力顯微鏡等。這些儀器可以分為接觸式的和非接觸式的。接觸式的有比如臺階儀探針，但這種儀器測量具有破壞性，對于非常薄的物體測量起來有困難，也容易造成破壞。非接觸式的通常采用光學(xué)測量儀器用光學(xué)方法進(jìn)行測量，雖然測量分辨率精度高，但是應(yīng)用光學(xué)原理因此局限于只能測量透明和半透明的膜，如橢偏儀等。實(shí)際上在工業(yè)領(lǐng)域要獲得這些儀器并不容易，操作起來也較困難。因此在一般需要高精度的對手機(jī)膜進(jìn)行厚度測量時，多采用的是測厚儀進(jìn)行測量。

使用高精度涂層測厚儀測量手機(jī)鋼化膜的厚度過程中，應(yīng)盡量保證專人專用和保管儀器。這是因?yàn)殚L期讓儀器處于工作狀態(tài)可能會加快儀器的損壞程度，也會使后面測量結(jié)果異常。在儀器工作時也要保持環(huán)境的穩(wěn)定，減少磁場和人為因素的影響。不隨意拆卸儀器，減少儀器受外物腐蝕的情況。定時對儀器進(jìn)行檢測，出現(xiàn)故障時要及時送回廠家進(jìn)行維修，才能保持儀器的正常使用壽命和更準(zhǔn)的測量結(jié)果。

利用高精度涂層測厚儀進(jìn)行手機(jī)膜厚度測量是一無損害的測量方式，不會對手機(jī)膜造成損害。通過這款專業(yè)儀器測量手機(jī)膜厚度，可以在同等條件下讓手機(jī)鋼化膜厚度得到更好的控制，因此生產(chǎn)出更高質(zhì)量、更耐用的手機(jī)鋼化膜。因?yàn)閮x器對手機(jī)鋼化膜的測量結(jié)果直接影響到手機(jī)膜的生產(chǎn)質(zhì)量，因此在選購儀器時一定要擦亮眼睛，選購一款合適的質(zhì)量高的儀器。